Оборудование в Санкт-Петербурге

Компактный микроскоп Zeiss AxioVert A1 Mat

Zeiss AxioVert A1 Mat позволяет проводить эффективную количественную оценку структур, оценивать свойства и качество материалов. поле зрения 23 мм позволяет полностью рассмотреть образец с первого раза. кодированная пятипозиционная турель автоматически распознает смену объективов. функция управления яркостью позволяет сохранять значения интенсивности освещения и вновь использовать их быстрая смена методик контрастирования возможна благодаря турели на 4 рефлекторных модуля Push&Click. в режиме Eco микроскоп Axio Vert A1 автоматически отключается, если он не используется более 15 минут напрямую подключается к компьютеру пользователя, используя стандартные протоколы, дополнительные драйверы не требуются Zeiss AxioVert A1 Mat – высокая информативность Совокупность нескольких методик контрастирования позволяет достичь максимального объема информации. В проходящем свете применимы методы светлого поля, поляризации или фазового контраста. В отраженном свете используются дифференциально-интерференционный контраст, дифференциально-интерференционный контраст в поляризованном свете, флуоресценция и поляризация, что позволяет изучать анизотропные материалы, например магний и алюминий. Применение микроскопа Благодаря инвертированной конструкции и линейному полю зрения окуляров 23 мм, можно легко проводить измерение толщины слоев и геометрических параметров, например, толщины электродов. Использование поляризации и объективов с высокой числовой апертурой позволяет анализировать анизотропные образцы, например размер зерен алюминиевых сплавов методом травления Баркера, цинковых сплавов, графита, магнитных материалов.

—

Санкт-Петербург

Микроскоп для материаловедения Olympus BX53M

Микроскоп Olympus BX53M – исследовательский прямой микроскоп для материаловедения с возможностью работы в отраженном и, опционально, проходящем свете. Поддерживает все необходимые методики контрастирования – светлое поле, темное поле, ДИК а также поляризацию. Модульная конструкция и общее увеличение свыше 1000 крат. Работа по ГОСТам в составе программно-аппаратного измерительного комплекса с камерой. Прямой исследовательский микроскоп Olympus BX53M, предназначен для исследований в материаловедческой лаборатории. Идеальная система для работы с микроэлектронными компонентами небольшого размера, залитыми шлифами, минералами, полимерами и металлами. Полностью универсальная система со всеми функциями металлографии по методикам светлого поля, темного поля, дифференциоально-интерференционного контраста и поляризации.

—

Санкт-Петербург

Моторизованный микроскоп ZEISS Axio Imager 2 MAT

ZEISS Axio Imager 2 MAT – моторизованный микроскоп для сложных исследований материалов, контроля качества и процесса. Отличается великолепной оптикой и однородным освещением. Диспетчер контрастности и диспетчер света всегда обеспечивают оптимальные условия и воспроизводимые результаты. ZEISS Axio Imager 2 MAT – микроскоп исследовательского класса Axio Imager 2 MAT имеет четыре различных варианта штативов, а также возможность расширить области применения с помощью специальных решений: анализатора частиц Particle Analyzer, корреляционной микроскопии или LSM 900. Работа за микроскопом отличается простотой и удобством. Области применения: авиационная и космическая промышленность, металлургическая и перерабатывающая промышленность, нефтегазовая и горнодобывающая промышленность, корреляционная микроскопия, 3D-топография, температурная микроскопия. ZEISS Axio Imager 2 MAT преимущества и особенности: модульная конструкция с рядом моторизованных и кодированных компонентов; оптимальные условия и воспроизводимые результаты благодаря диспетчеру контрастности и света; работа без вибрации благодаря стабильной конструкции штатива; возможность обновить Axio Imager 2 с помощью модуля конфокального лазерного сканирования ZEISS LSM 800; с помощью ступеней нагрева AxioVision и Linkam Вы можете проводить эксперименты по нагреву или охлаждению, изучать как температура влияет на поведение металлов, кристаллов, керамики или пластика. Задокументировать температурный режим можно в виде серий фотоснимков; измеряйте частицы размером до 2 мкм. Программное обеспечение Particle Analyzer поддерживает стандарты тестирования чистоты ISO 16232, VDA 19 и анализа масла ISO 4406, ISO 4407 и SAE AS 4059; полностью охарактеризуйте остаточные частицы с помощью корреляционного автоматического анализа частиц от ZEISS; быстрая автоматическая фокусировка.

—

Санкт-Петербург

Профессиональный стереомикроскоп Zeiss Stemi 508

Stemi 508 – микроскоп Carl Zeiss, выполненный по схеме Грену. Высокая четкость, глубина резкости, прекрасный контраст и натуральная передача цветов – все то, что вы ждете от профессионального стереомикроскопа. Благодаря апохроматической оптике вы получаете высококонтрастные, четкие и геометрически правильные изображения. Механика микроскопа рассчитана на постоянную работу в КДЛ, реставрационной мастерской. Микроскоп незаменим для гравировки, высокоточной пайке и контролю печатных плат. Поле зрения микроскопа Stemi 508 – до 36 мм в базовой версии на минимальном увеличении. Это делает стереомикроскоп незаменимым в зуботехнической лаборатории, а также для решения задач при гравировке, работе с металлами и ювелирном направлении. Зум 8: 1 затем позволяет увеличивать детали до 50-кратного увеличения. Сменные объективы расширяют возможности системы, а комфортный угол наклона окулярных трубок 35 градусов позволяет сидеть за микроскопом целый рабочий день, семь дней в неделю, без усталости в шейном отделе позвоночника.

—

Санкт-Петербург

Прямой стереомикроскоп микроскоп Olympus SZX16

Универсальный стереомикроскоп Olympus SZX16 исследовательского класса с возможностью установки цифровой камеры, флуоресцентного модуля, осветителя проходящего и отраженного света. Микроскоп равнозначно применим как в биологических так и в материаловедческих исследованиях, широкий набор опций позволяет сконструировать систему под конкретные задачи. Увеличение в базе (объектив 1х и окуляры 10х) от 7 до 115 крат. Максимальное доступное увеличение (объектив 2х и окуляры 30х) 690 крат. Возможность установки коаксиального осветителя с фактором увеличения 1,5х. Револьвер на два объектива Доступен флуоресцентный осветитель, программное обеспечение для мультиканальной флуоресценции Стереомикроскоп Olympus SZX16 – исследовательская система, позволяющая решать задачи как микро так и макро контроля не меняя конфигурацию микроскопа. Блок увеличения микроскопа имеет зум фактор 1:16 – различные задачи решаются на одном микроскопе. На микроскоп установлены объективы серии SDF – планАПОхроматические объективы с высокими значениями числовых апертур. Достигается разрешение 900 линий/мм как при работе с малым увеличением и большим полем зрения, так и при исследовании микроструктур препаратов. В биологии планАПОхроматические объективы позволяют получить четкое изображение прозрачных объектов в проходящем свете не применяя дополнительных методик контрастирования, а в микроэлектронике и материаловедении разрешить микроструктуры микронного диапазона.

—

Санкт-Петербург

Стереомикроскоп Zeiss Stemi 305

Компактный стереомикроскоп с большими возможностями. Zeiss Stemi 305 стереомикроскоп с увеличением в базе от 8х до 40х – отличное решение для биологической лаборатории, промышленного контроля или учебного класса. Микроскоп оснащается камерой, имеет различные конфигурации для работы в отраженном, проходящем и косопадающем освещении. Stemi 305 стереомикроскоп с зумом 5:1 – отличное решение для биологической лаборатории или промышленного контроля. Наслаждайтесь простотой в использовании микроскопа со встроенной светодиодной подсветкой для проходящего и отраженного света. Несмотря на простоту использования, встроенное освещение Stemi 305 может варьироваться, чтобы контрастировать каждый образец в лучшем виде. Удобная система освещения позволяет объединять до двух контрастов отраженного света и проходящего. Также вы можете сделать предустановки света, для более комфортной работы за микроскопом для учебных, лабораторных или промышленных целей. Белые светодиоды в Stemi 305 излучают приятный яркий дневной свет, поэтому изображение выглядит четким и ясным. Более того, долговечные светодиоды бесшумны, экономят энергию и не требуют технического обслуживания. Устанавливайте камеру на Zeiss Stemi 305 и получите качественные снимки своих объектов, что позволит вам делиться прекрасным изображениями с вашими коллегами для проведения обучения, исследовательских презентаций и т.д. Основная идея стереоскопического микроскопа проста. Он был сформулирован в 1896 году биологом Горацио Гриноу, который хотел добиться качественного увеличения биологических образцов. Он решил, что возможно построить микроскоп с двумя траекториями луча, обращенными к объекту с двух сторон, точно так же, как это делают человеческие глаза при наблюдении. Мозг бы соединял два изображения вместе и создавал пространственное изображение объекта с высокой степенью восприятия глубины. Это размышление привело к появлению первого стереомикроскопа, разработанного Zeiss.

—

Санкт-Петербург

Стереомикроскоп ZEISS SteREO Discovery V12

ZEISS SteREO Discovery V12 – стереомикроскоп для медицинских и биологических исследований, а так же для исследований материалов и контроля качества. Моторизованный зум. Освещение и контрастирование с помощью источников холодного света или LED-осветителей. Эргономичное и простое управление. Zeiss SteREO Discovery V12– стереомикроскоп для биологии и медицины Пионер оптики и изобретатель стереомикроскопии Carl Zeiss, вложил весь свой опыт и ноу-хау в разработку нового оптического дизайна для Stereo Discovery V12. Запатентованная оптика устанавливает новые стандарты стереомикроскопии. Carl Zeiss расширяет границы стереомикроскопии с увеличением глубины резкости, отличной цветопередачей, высокой контрастностью и большей (на 20%) информацией об изображениях. Новая запатентованная оптика обеспечивает улучшенное разрешение и контраст. Моторизованные компоненты стереомикроскопа SteREO Discovery полностью интегрированы с программным обеспечением ZEN, благодаря чему результаты измерений всегда будут доступны. Проводите исследования, используя улучшенное трехмерное изображение во всем диапазоне увеличений без потери фокуса.

—

Санкт-Петербург

Универсальный стереомикроскоп Olympus SZX7

Olympus SZX7 — комфорт для глаз и точность в работе. Эффективность стереомикроскопов и использование их возможностей теперь легко достижимы. Благодаря инновационным окулярам ComfortView, которые позволяют естественное и смягченное видение объектов и, таким образом, значительно сокращают время, для настройки микроскопа, стереомикроскоп не утомляет глаза. В результате, оператор быстро приспосабливается к стереоизображению, а голова и глаза при этом сохраняют большую степень свободы, без потери трехмерного эффекта при наблюдении. Более того, новая оптика гарантирует высочайшее качество и точность цветопередачи. Высочайший комфорт Благодаря передовым оптическим характеристикам стереомикроскопов серии SZ2, Вам захочется использовать их в гораздо большем объеме, чем раньше. В связи с этим компания Olympus разработала свои стереомикроскопы очень удобными, что позволяет использовать их как в течение короткого, так и длительного промежутка времени. Модульная конструкция Модульность конструкции позволяет создавать системы под различные задачи, а наличие многообразия аксессуаров, включающих осветители, штативы и другие вспомогательные модули, гарантирует серии SZ2 наилучшее применение в современной стереомикроскопии. SZX7 с системой Галилея – оптическое совершенство Стереомикроскоп Olympus SZX7 обеспечивает оптимальное изображение любого объекта благодаря оптической системе Галилея в комбинации с объективами (DF), отличающимися отсутствием дисторсии и максимально возможными числовыми апертурами (NA). Лучшее изменение масштаба изображения (zoom) в этом классе, с диапазоном увеличения 8-56х, модель SZX7 предлагает максимальный коэффициент плавной системы увеличения zoom 7:1, что позволяет просмотр любого образца с наиболее подходящим увеличением, а высококачественные объективы формируют четкие изображения с высоким разрешением, показывающим каждую деталь.

—

Санкт-Петербург

Инвертированный микроскоп 4XB

Инвертированный микроскоп 4XB предназначен для визуального наблюдения и контроля микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете при прямом освещении в светлом поле, а также в поляризированном свете. Прибор не имеет ограничений по высоте образца: необходимо лишь, чтобы поверхность образца совпадала с поверхностью стола микроскопа. Микроскоп 4XB имеет удобное управление, компактную структуру и современный внешний вид. База микроскопа 4XB имеет большую площадь поддерживающего основания и плечо изгиба, что делает центр тяжести оборудования ниже, таким образом, он может быть стабильно и надежно установлен. Угол наклона между окуляром и опорной поверхностью составляет 45 °, и это делает его удобным для наблюдения. Это устройство используется для анализа структуры всех видов металлов и сплавов. Микроскоп может быть широко использован в лабораториях на заводах для проверки качества литья, для проверки сырья и анализа металлографической микроструктуры материала после термической обработки, для контроля работ по поверхностному нанесению покрытий и т.д. Прибор также может быть оснащен фотографическим устройством для получения изображений поверхности в режиме реального времени.

180 900 р.

Санкт-Петербург

Металлографический микроскоп 4XC

Металлографические микроскопы используются для определения и анализа структуры различных металлических сплавов. Эти микроскопы являются важным инструментом для исследования металлографии. Они могут применяться для исследования качества литья, плавки и высокотемпературной обработки, для тестирования сырья и обработанных материалов и анализа материалов после высокотемпературной обработки. Они являются идеальными инструментами для научных исследований, обучения, производства и подобного применения. Модель 4XC может быть применена для фотографирования иллюстраций для металлографических атласов с выбором специфического прибора для фотографирования. Металлографический микроскоп 4XC - револьверный микроскоп с увеличением 100х-1000х. Имеет опциональную возможность фото и видео-регистрации (на заказ). Металлографический микроскоп 4XC по заказу оснащается камерой, которая может делать металлографические фотографии для проведения анализа полученных результатов, а также обладает другими функциями, такими как редактирование изображений, производство, хранение, управление и др. Металлографический микроскоп 4XC может быть широко использован в лабораториях на заводах для проверки качества литья, для проверки сырья и анализа металлографической микроструктуры материала после термической обработки и для исследования работ по поверхностному нанесению покрытий и т.д. Это оборудование может быть оснащено фотографическим устройством для получения фотографий поверхности.

210 900 р.

Санкт-Петербург

Стереомикроскоп SZN71

Стереомикроскопы применяют для исследования макроструктуры, контроля поверхности, качества сварных швов, структуры изломов, а также для работы с мелкими деталями и механизмами (сборка, пайка и пр.) благодаря большой глубине фокуса и возможности формирования трехмерного изображения при наблюдении через окуляры. Микроскоп SZN71 выполнен по схеме Грену, свет сначала проходит через два оптических канала, разнесенных в пространстве на определенный угол, затем передается на каждый окуляр отдельно. Схема Грену сокращает потенциал модернизации до минимума и на базе этой схемы изготавливают только простые модели для рутинных работ. Основные преимущества: недорогой микроскоп для решения рутинных задач; отраженный и проходящий свет; большой набор дополнительных линз от 0,3х до 2х.

—

Санкт-Петербург

Микроскоп отсчётный Бринелль МПБ-2 В7

Микроскопы отсчётные МПБ (далее - микроскопы) предназначены для измерения линейных размеров в отражённом свете, в том числе для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскопы предназначены для рассмотрения с увеличением 20, 40, 50, 100 или 200 крат различных предметов и оценочных или точных измерений их линейных размеров. Микроскопы применяются в стационарных и передвижных лабораториях фармацевтической, строительной, химической, аналитической, пищевой, металлургической и других областях промышленности. Наиболее частое применение: измерение диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Также микроскопы могут быть использованы с целью: изучения и измерения микрообъектов бесконтактным способом; проверки печатных плат; контроля печати в бумажной и текстильной промышленности; проведения опытных и криминалистических экспертиз. Описание средства измерений Принцип действия микроскопа основан на определении линейных размеров изображения объектов, в том числе отпечатка, получаемого от вдавливания шарика в исследуемый материал под определённой нагрузкой, по шкалам сетки и микрометрического винта или с помощью программного обеспечения камеры, используемой вместо объектива. Модификации микроскопов отсчётных МПБ отличаются диапазонами измерений, ценой деления шкалы сетки объектива, наличием сменных объективов и осветителя. Описание функционала различных модификаций микроскопов для облегчения выбора: МПБ-2 В7 - фокусировка микроскопа на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью диоптрийной настройки объектива. Микроскоп оснащён микрометром с круговой шкалой, что позволяет очень легко и точно производить измерения длины с низкой погрешностью. Один несменный объектив с увеличением 1х. Рекомендуется использовать для замера отпечатков d≤6 мм по ГОСТ 9012-59 и иных объектов, линейные размеры которых менее ≤6 мм. МПБ-3 В7 - фокусировка микроскопа на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью диоптрийной настройки объектива. Микроскоп оснащён микрометром с круговой шкалой, что позволяет очень легко и точно производить измерения длины с низкой погрешностью. Один несменный объектив с увеличением 2х. Рекомендуется использовать для замера отпечатков d≤3 мм по ГОСТ 9012-59 и иных объектов, линейные размеры которых менее ≤3 мм. МПБ-3М В7 с окуляром - фокусировка микроскопов на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью фокусировочного механизма. Микроскоп оснащён визирной шкалой на 100 единиц, цена деления зависит от увеличения объектива, установленного в микроскоп. Просветлённая оптика и навесной осветитель позволяют улучшить контрастирование и проводить измерения вне зависимости от степени освещённости объекта контроля. Два штатных сменных объектива (2х и 5х), три сменных объектива по заказу (4х, 10х, 20х) и цифровая камера (2 Мп USB 2.0) по заказу. Рекомендуется использовать для замера отпечатков d≤5 мм по ГОСТ 9012-59 и иных объектов, линейные размеры которых менее ≤5 мм.* МПБ-3М В7 с цифровой камерой - фокусировка микроскопов на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью фокусировочного механизма. Просветлённая оптика и навесной осветитель позволяют улучшить контрастирование и проводить измерения вне зависимости от степени освещённости объекта контроля. Один штатный сменный объектив 4х с цифровой камерой (2 Мп USB 2.0), четыре сменных объектива по заказу (2х, 5х, 10х, 20х). Оснащается программным обеспечением (ПО) AmScope, устанавливаемым на компьютер. Камера производит захват изображения и видео, которое обрабатывается с помощью ПО для отображения результатов измерений, а также для сбора, обработки и хранения измерительной информации. Рекомендуется использовать для замера объектов, линейные размеры которых менее ≤1 мм (при измерении цифровой камерой), а также отпечатков d≤5 мм по ГОСТ 9012-59 и иных объектов, линейные размеры которых менее ≤5 мм (при измерении дополнительными объективами 2х, 5х, 10х, 20х).**

45 900 р.

Санкт-Петербург

Микроскоп отсчётный Бринелль МПБ-3 В7

Микроскопы отсчётные МПБ (далее - микроскопы) предназначены для измерения линейных размеров в отражённом свете, в том числе для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскопы предназначены для рассмотрения с увеличением 20, 40, 50, 100 или 200 крат различных предметов и оценочных или точных измерений их линейных размеров. Микроскопы применяются в стационарных и передвижных лабораториях фармацевтической, строительной, химической, аналитической, пищевой, металлургической и других областях промышленности. Наиболее частое применение: измерение диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Также микроскопы могут быть использованы с целью: изучения и измерения микрообъектов бесконтактным способом; проверки печатных плат; контроля печати в бумажной и текстильной промышленности; проведения опытных и криминалистических экспертиз. Описание средства измерений Принцип действия микроскопа основан на определении линейных размеров изображения объектов, в том числе отпечатка, получаемого от вдавливания шарика в исследуемый материал под определённой нагрузкой, по шкалам сетки и микрометрического винта или с помощью программного обеспечения камеры, используемой вместо объектива. Модификации микроскопов отсчётных МПБ отличаются диапазонами измерений, ценой деления шкалы сетки объектива, наличием сменных объективов и осветителя. Описание функционала различных модификаций микроскопов для облегчения выбора: МПБ-2 В7 - фокусировка микроскопа на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью диоптрийной настройки объектива. Микроскоп оснащён микрометром с круговой шкалой, что позволяет очень легко и точно производить измерения длины с низкой погрешностью. Один несменный объектив с увеличением 1х. Рекомендуется использовать для замера отпечатков d≤6 мм по ГОСТ 9012-59 и иных объектов, линейные размеры которых менее ≤6 мм. МПБ-3 В7 - фокусировка микроскопа на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью диоптрийной настройки объектива. Микроскоп оснащён микрометром с круговой шкалой, что позволяет очень легко и точно производить измерения длины с низкой погрешностью. Один несменный объектив с увеличением 2х. Рекомендуется использовать для замера отпечатков d≤3 мм по ГОСТ 9012-59 и иных объектов, линейные размеры которых менее ≤3 мм. МПБ-3М В7 с окуляром - фокусировка микроскопов на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью фокусировочного механизма. Микроскоп оснащён визирной шкалой на 100 единиц, цена деления зависит от увеличения объектива, установленного в микроскоп. Просветлённая оптика и навесной осветитель позволяют улучшить контрастирование и проводить измерения вне зависимости от степени освещённости объекта контроля. Два штатных сменных объектива (2х и 5х), три сменных объектива по заказу (4х, 10х, 20х) и цифровая камера (2 Мп USB 2.0) по заказу. Рекомендуется использовать для замера отпечатков d≤5 мм по ГОСТ 9012-59 и иных объектов, линейные размеры которых менее ≤5 мм.* МПБ-3М В7 с цифровой камерой - фокусировка микроскопов на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью фокусировочного механизма. Просветлённая оптика и навесной осветитель позволяют улучшить контрастирование и проводить измерения вне зависимости от степени освещённости объекта контроля. Один штатный сменный объектив 4х с цифровой камерой (2 Мп USB 2.0), четыре сменных объектива по заказу (2х, 5х, 10х, 20х). Оснащается программным обеспечением (ПО) AmScope, устанавливаемым на компьютер. Камера производит захват изображения и видео, которое обрабатывается с помощью ПО для отображения результатов измерений, а также для сбора, обработки и хранения измерительной информации. Рекомендуется использовать для замера объектов, линейные размеры которых менее ≤1 мм (при измерении цифровой камерой), а также отпечатков d≤5 мм по ГОСТ 9012-59 и иных объектов, линейные размеры которых менее ≤5 мм (при измерении дополнительными объективами 2х, 5х, 10х, 20х).**

58 900 р.

Санкт-Петербург

Микроскоп отсчётный Бринелль с окуляром 10х МПБ-3М В7

Микроскопы отсчётные МПБ (далее - микроскопы) предназначены для измерения линейных размеров в отражённом свете, в том числе для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Микроскопы предназначены для рассмотрения с увеличением 20, 40, 50, 100 или 200 крат различных предметов и оценочных или точных измерений их линейных размеров. Микроскопы применяются в стационарных и передвижных лабораториях фармацевтической, строительной, химической, аналитической, пищевой, металлургической и других областях промышленности. Наиболее частое применение: измерение диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля. Также микроскопы могут быть использованы с целью: изучения и измерения микрообъектов бесконтактным способом; проверки печатных плат; контроля печати в бумажной и текстильной промышленности; проведения опытных и криминалистических экспертиз. Описание средства измерений Принцип действия микроскопа основан на определении линейных размеров изображения объектов, в том числе отпечатка, получаемого от вдавливания шарика в исследуемый материал под определённой нагрузкой, по шкалам сетки и микрометрического винта или с помощью программного обеспечения камеры, используемой вместо объектива. Модификации микроскопов отсчётных МПБ отличаются диапазонами измерений, ценой деления шкалы сетки объектива, наличием сменных объективов и осветителя. Описание функционала различных модификаций микроскопов для облегчения выбора: МПБ-2 В7 - фокусировка микроскопа на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью диоптрийной настройки объектива. Микроскоп оснащён микрометром с круговой шкалой, что позволяет очень легко и точно производить измерения длины с низкой погрешностью. Один несменный объектив с увеличением 1х. Рекомендуется использовать для замера отпечатков d≤6 мм по ГОСТ 9012-59 и иных объектов, линейные размеры которых менее ≤6 мм. МПБ-3 В7 - фокусировка микроскопа на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью диоптрийной настройки объектива. Микроскоп оснащён микрометром с круговой шкалой, что позволяет очень легко и точно производить измерения длины с низкой погрешностью. Один несменный объектив с увеличением 2х. Рекомендуется использовать для замера отпечатков d≤3 мм по ГОСТ 9012-59 и иных объектов, линейные размеры которых менее ≤3 мм. МПБ-3М В7 с окуляром - фокусировка микроскопов на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью фокусировочного механизма. Микроскоп оснащён визирной шкалой на 100 единиц, цена деления зависит от увеличения объектива, установленного в микроскоп. Просветлённая оптика и навесной осветитель позволяют улучшить контрастирование и проводить измерения вне зависимости от степени освещённости объекта контроля. Два штатных сменных объектива (2х и 5х), три сменных объектива по заказу (4х, 10х, 20х) и цифровая камера (2 Мп USB 2.0) по заказу. Рекомендуется использовать для замера отпечатков d≤5 мм по ГОСТ 9012-59 и иных объектов, линейные размеры которых менее ≤5 мм.* МПБ-3М В7 с цифровой камерой - фокусировка микроскопов на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью фокусировочного механизма. Просветлённая оптика и навесной осветитель позволяют улучшить контрастирование и проводить измерения вне зависимости от степени освещённости объекта контроля. Один штатный сменный объектив 4х с цифровой камерой (2 Мп USB 2.0), четыре сменных объектива по заказу (2х, 5х, 10х, 20х). Оснащается программным обеспечением (ПО) AmScope, устанавливаемым на компьютер. Камера производит захват изображения и видео, которое обрабатывается с помощью ПО для отображения результатов измерений, а также для сбора, обработки и хранения измерительной информации. Рекомендуется использовать для замера объектов, линейные размеры которых менее ≤1 мм (при измерении цифровой камерой), а также отпечатков d≤5 мм по ГОСТ 9012-59 и иных объектов, линейные размеры которых менее ≤5 мм (при измерении дополнительными объективами 2х, 5х, 10х, 20х).**

77 900 р.

Санкт-Петербург

ДК-724ДМ электродвигатель тяговый постоянного тока

Электродвигатель тяговый постоянного тока ДК-724ДМ предназначен для мотор-колес большегрузных автосамосвалов ""БелАЗ"" грузоподъемностью 180 тРежим работы S1 Мощность 560кВт Частота вращения номинальная, об/мин 590 Максимальная рабочая частота вращения, об/мин. 1850 Вращающий момент, Н м 9060 Напряжение независимой обмотки возбуждения, В 70 Ток якоря, А 900 Ток независимой обмотки возбуждения, А 30,6 Степень возбуждения последовательной обмотки, % 70 Вид возбуждения смеш. Класс нагревостойкости F, H Способ охлаждения IС 17 Конструктивное исполнение IМ 9001 Расход охлаждающего воздуха, куб. м/с 1,83

10 000 р.

Санкт-Петербург

Фрезерный станок с ЧПУ, DG-CNC-2900

Предназначен для фрезерования, сверления и другой обработки профилей из алюминия и других легких сплавов, профилей ПВХ Автоматическая смена и измерение инструмента. Технические характеристики Рабочий стол: 3500х700х560 мм Поворотный: -90/0/+90 Пневмопривод Шпиндель: 7,5 кВт, 24000 об/мин Инструмент: ISO30-ER32-45L Магазин инструмента: 4 Смазка: Автоматическая CNC: HIGERMAN Длинна/ ширина/ высота: 3960/ 1300/ 2200 мм Вес: 2500 кг Год выпуска: 2024 Станок новый, подключен, готов к демонстрации!

—

Санкт-Петербург

Электронный микроскоп SEM 150

Максимальное увеличение SEM 150 составляет 150 000 раз, а разрешение достигает 5 нм (SE, 30 кВ). Он оснащен детектором SE (вторичных электронов) и детектором BSE (электронов обратного рассеяния). Грузовая платформа может быть сконфигурирована по трем осям (X, Y, R). Платформа с ручным управлением также может быть модернизирована до автоматической платформы с пятью осями (X, Y, R, Z, T). Анализатор спектра EDS может быть настроен для всех серий продуктов.

—

Санкт-Петербург

Электронный микроскоп SEM 3200

SEM 3200 - сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью, обладающий высокой производительностью и широким применением. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и низкого вакуума. Он также имеет большую глубину резкости и удобный для пользователя интерфейс для определения характеристик образцов. Широкие возможности масштабирования помогают пользователям исследовать большой спектр микроскопических изображений. Ключевые особенности: Модульность конструкции SEBSEEDSEBSD Оптическая навигация Быстрый поиск области интереса (ROI) Большая площадь сканирования Автоматическая съемка и сшивка изображений Объединение изображения (SE+BSE) Информация о составе и поверхности образца представлена на одном изображении. Режим низкого вакуума Предоставляет подробную информацию о поверхности и морфологии образца при низком вакууме, ПО переключает состояние вакуума одним нажатием мыши.

—

Санкт-Петербург

Микроскопическая система Olympus MX63

Микроскопическая система Olympus MX63 предоставляет высокое качество изображений при исследовании полупроводниковых пластин до 300 мм, плоскопанельных дисплеев, печатных плат и прочих больших выборок. Это эргономичный и простой в эксплуатации микроскоп, имеющий модульную конструкцию, что позволяет достичь оптимальных условий исследования для различных применений. Функциональность Усовершенствованные инструменты анализа. Различные функциональные возможности оборудования серии MX63 предоставляют четкие, резкие изображения, с помощью которых пользователь может надежно определить дефекты своих образцов. Новые технологии освещения и опции визуализации обеспечивают пользователю больше инструментов для оценки образцов и регистрации обнаруженных несоответствий. Невидимое становится видимым: наблюдение и сбор данных с помощью функции MIX. Технология наблюдения MIX позволяет получить уникальные изображения микроскопии путем комбинации метода темного поля и других методов (светлое поле, флуоресценция или поляризация). Наблюдение в режиме MIX обеспечивает пользователю возможность обнаружить дефекты, которые сложны для определения с помощью обычного микроскопа. Круговая светодиодная лампа, которая используется для метода темного поля, обладает функцией направленного темного поля – в данный момент времени освещается только один участок. Это снижает ореолообразование вокруг образца и помогает рассмотреть текстуру поверхности. Усовершенствованная конструкция для обеспечения соответствия нормам чистого помещения. Оборудование серии MX63 рассчитано на эксплуатацию в условиях чистого помещения и оснащено функциями, позволяющими снизить риск заражения и повреждения образцов. Эргономичная конструкция системы обеспечивает комфорт пользователя даже при длительной работе. Olympus MX63 соответствует международным требованиям и стандартам, включая нормы SEMI S2/S8, CE и UL. Быстрый контроль в условиях чистых помещений. Оборудование серии MX63 обеспечивает контроль пластин с защитой от загрязнений. Все приводные компоненты заключены в защищенные корпусы; для рамы микроскопа, тубусов, защиты от дыхания и других деталей применяется антистатическая обработка. Скорость вращения и уровень безопасности приводных головок выше, чем у головок с ручным вращением, что снижает время простоя между инспекциями, устраняя необходимость касания пластины оператором и снижая вероятность загрязнения. Конструкция системы создана для эффективного наблюдения. Столик XY предназначен для работы в режиме грубой и тонкой обработки благодаря сочетанию встроенной муфты и узлов XY. Строение столика позволяет повысить эффективность наблюдения даже крупных образцов, например, 300-мм пластин. Наклонный тубус с возможностью телескопического удлинения дает оператору возможность расположиться в удобной для работы позе. Совместимость со всеми размерами пластин. Система подходит для работы с различными типами держателей пластин 150–200 мм и 200–300 мм и стеклянными пластинами. Если на производстве размер пластины будет изменен, раму микроскопа можно заменить без больших финансовых затрат. В рамках оборудования Olympus MX63 могут использоваться различные типы столиков для крепления пластин с размерами 75, 100, 125 и 150 мм на инспекционной линии. Простота эксплуатации Интуитивное управление микроскопом: удобство и простота использования. Простые элементы управления облегчают конфигурацию и вызов настроек микроскопа. Быстрая настройка фокуса. Использование средств вспомогательной фокусировки в оптическом тракте дает возможность легко и правильно настраивать фокус на образцах с низкой контрастностью, таких как полупроводниковые пластины без покрытия. Фокусировка на сетке в фокальной плоскости облегчает настройку фокуса для всего образца. Менеджер интенсивности света и автоматическое регулирование диафрагмы. При использовании обычных микроскопов пользователям приходится регулировать интенсивность освещения и диафрагму для каждого наблюдения. Olympus MX63 позволяет оператору настроить интенсивность освещения и характеристики диафрагмы при оптическом увеличении и изменении метода наблюдения. Эти настройки легко восстановить, что экономит время и повышает качество изображения. Эргономичные элементы управления для удобства работы. Элементы управления для замены объектива и настройки диафрагмы расположены в нижней передней части микроскопа, что позволяет оператору продолжать наблюдение, не отпуская ручку фокусировки и не отводя глаз от окуляров. Совершенная оптика и цифровые технологии для высокоточного контроля Компания Olympus, специализирующаяся в области разработки высококачественных оптических приборов и современных цифровых технологий получения изображений, гарантирует исключительное качество производимых оптических элементов и высокую точность измерения. Исключительные оптические характеристики, контроль аберрации волнового фронта. Оптические характеристики объективов напрямую влияют на качество изображения и результаты анализа. Объективы Olympus UIS2 с большим коэффициентом увеличения минимизируют аберрации волнового фронта, обеспечивая надежность результатов исследования. Ровная цветовая температура: белая светодиодная подсветка высокой интенсивности. Olympus MX63 использует белую LED-подсветку высокой интенсивности для отраженного и проходящего света. LED обеспечивает ровную цветовую температуру, независимо от интенсивности, для достижения высокого качества изображения и точной передачи цвета. LED – эффективная и долговечная подсветка, которая идеально подходит для области материаловедения. Применение Микроскопия отраженного света применяется в самых разных отраслях промышленности. Представляем лишь несколько примеров результатов, которых можно добиться при использовании различных методов наблюдения. Дифференциальная интерференционно-контрастная методика (DIC) характеризуется тем, что высота образца, которая как правило не отражается при исследовании светлого поля, доступна для наблюдения как рельеф, аналогично трехмерному изображению с повышенной контрастностью. Такая технология идеально подходит для контроля образцов с очень незначительными различиями по высоте, например, магнитных головок, жестких дисков и отполированных полупроводниковых пластин.

—

Санкт-Петербург

Инспекционный микроскоп Olympus MX51

Инспекционный микроскоп Olympus MX51 — механический инспекционный микроскоп для микроэлектроники со специальным столом для кремниевых пластин или фотошаблонов. Работа в проходящем и отраженном свете, поляризация и DIC. Отраженный свет, светлое/темное поле, ДИК и поляризация Проходящий свет и флуоресценция Тубус и окуляры с полем до FN26,5 Источник света – галогенная лампа 100Вт. Разрешение микроскопа до 0,3 мкм по XY Объективы: поддерживает любые объективы из каталога Olympus UIS2. В базовой конфигурации 5х, 10х, 20х, 50х, 100х. Доступен объектив 150х NA 0.9 Револьверное устройство от пяти позиций, опционально моторизованные компоненты. Стол микроскопа с держателем кремниевых пластин до 8″ Микроскоп создан для работы с кремниевыми пластинами и фотошаблонами. От стандартного прямого микроскопа для материаловедения его отличают: Увеличенный предметный стол Повышенная жесткость штатива Мощный источник отраженного света Программное обеспечение для проведения измерений

—

Санкт-Петербург