|
Дата: 14.07.2024 г. - Цена: договорная Система измерения отверстий сложного профиляtd { padding-left: 2px; padding-right: 2px;}
Параметр Значение
Базовое расстояние/ диапазон измерения (1-й датчик), мм 25/25
Базовое расстояние/ диапазон измерения (2-й датчик), мм 55/30
Базовое расстояние/ диапазон измерения (3-й датчик), мм 55/30
Погрешность измерения, мм ±0,02
Пространственное разрешение, точек/оборот 3200
Источник излучения видимый красный полупроводниковый лазер, длина волны 660 нм
Выходная мощность, мВт <1
Класс лазерной безопасности 2 (IEC60825-1)
Форма лазерного пятна Круг
Интерфейс Ethernet (UDP)
Напряжение питания, В 9…24
Потребляемая мощность, Вт 3 (режим ожидания), 20 (режим сканирования)
Устойчивость к внешним воздействиям:
Уровень вибраций 20 г /10…1000 Гц, 6 часов для каждой из XYZ осей
Ударные нагрузки 30 г / 6 мс
Окружающая освещенность, люкс 30000
Относительная влажность 5-95% (без конденсации)
Окружающая рабочая температура, °С 0…+45
Температура хранения, °С -20…+70
Материал корпуса алюминий, стекло
Вес (без кабеля) 1500 грам
Система предназначена для сканирования и измерения внутренних размеров объекта, имеющего особый профиль.
Дополнительные материалы, технические характеристики, софт можно скачать на официальном сайте компании РИФТЭК www.riftek.comПроизводитель: RIFTEK
|
